路径: 主页 > YD/T > 第32页 > YD/T 835-1996 | 标准编号 | YD/T 835-1996 (YD/T835-1996) | | 中文名称 | 雪崩光电二极管检测方法 | | 英文名称 | Test method of avalanche photodiodes | | 行业 | 邮电行业标准 (推荐) | | 中标分类 | M33 | | 字数估计 | 17,140 | | 发布日期 | 4/8/1996 | | 实施日期 | 9/1/1996 | | 范围 | 本标准规定了带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管光电参数的检测项目及检测方法。 本标准适用于带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管的光电参数检测。 | ......
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