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YD/T 835-1996 相关标准英文版PDF

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YD/T 835-1996 英文版 599 YD/T 835-1996 [PDF]天数 <=3 雪崩光电二极管检测方法 YD/T 835-1996
基本信息
标准编号 YD/T 835-1996 (YD/T835-1996)
中文名称 雪崩光电二极管检测方法
英文名称 Test method of avalanche photodiodes
行业 邮电行业标准 (推荐)
中标分类 M33
字数估计 17,140
发布日期 4/8/1996
实施日期 9/1/1996
范围 本标准规定了带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管光电参数的检测项目及检测方法。 本标准适用于带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管的光电参数检测。

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英文网页English: YD/T 835-1996

相关标准: YD/T 908 | YD/T 839.3 | YD/T 839.4 | YD/T 839.2 |