GB 3443-1982 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB 3443-1982 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=9 | 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 3443-1982 (GB3443-1982) |
| 中文名称 | 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | General principles of measuring methods of MOS random access memory for semiconductor integrated circuits |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | L56 |
| 字数估计 | 31,338 |
| 发布日期 | 12/31/1982 |
| 实施日期 | 10/1/1983 |
| 采用标准 | IEC 147-2, NEQ |
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