GB 3834-1983 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB 3834-1983 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=9 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 3834-1983 (GB3834-1983) |
| 中文名称 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | General principles of measuring methods of CMOS circuits for semiconductor integrated circuits |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | L56 |
| 字数估计 | 38,371 |
| 发布日期 | 8/31/1983 |
| 实施日期 | 7/1/1984 |
| 采用标准 | IEC 147-2, NEQ |
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