GB 6801-1986 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB 6801-1986 | 519 | GB 6801-1986 | [PDF]天数 <=4 | 半导体器件基准测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 6801-1986 (GB6801-1986) |
| 中文名称 | 半导体器件基准测试方法 |
| 英文名称 | Reference methods of measurement for semiconductor devices |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | L40 |
| 字数估计 | 13,142 |
| 发布日期 | 8/28/1986 |
| 实施日期 | 7/1/1987 |
| 采用标准 | IEC 1473-3-1970, MOD |
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