GB/T 14145-1993 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 14145-1993 | 199 | GB/T 14145-1993 | [PDF]天数 <=2 | 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 14145-1993 (GB/T14145-1993) |
| 中文名称 | 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 |
| 英文名称 | Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference contrast microscopy |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H81 |
| 国际标准分类 | 29.040.30 |
| 字数估计 | 5,597 |
| 发布日期 | 2/6/1993 |
| 实施日期 | 10/1/1993 |
| 标准依据 | National Standard Committee Bulletin (2005 No. 146) |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
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