| 标准编号 | GB/T 15246-2022 (GB/T15246-2022) | | 中文名称 | 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 | | 英文名称 | Microbeam analysis - Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | N33 | | 国际标准分类 | 19.020 | | 字数估计 | 14,114 | | 发布日期 | 2022-10-14 | | 实施日期 | 2023-02-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 15246-2002 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 15246-2022
Microbeam analysis -- Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis
ICS 19.020
CCSN33
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 15246-2002
微束分析 硫化物矿物的电子探针
定量分析方法
2022-10-12发布
2023-02-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 仪器设备 2
5 试样制备 2
6 标样 2
7 分析测试条件的选择 3
8 谱线重叠修正 4
9 分析步骤 4
10 结果处理 5
11 检测报告 5
附录A(资料性) 硫化物矿物电子探针定量分析不确定度评定示例 6
参考文献 9
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件代替GB/T 15246-2002《硫化物矿物的电子探针定量分析方法》。本文件与GB/T 15246-
2002相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:
a) 增加了电子探针仪器设备的性能要求和扫描电子显微镜的仪器设备(见4.1);
b) 增加了试样制备方法(见5.2);
c) 更改了分析选择标样的描述(见6.1,2002年版的6.1);
d) 删除了束流达到稳定状态的工作时间要求(见2002年版的7.3.1);
e) 增加了束流稳定度的要求(见7.3);
f) 更改了硫元素的分光晶体和钨元素的线系选择(见7.4,2002年版的7.4);
g) 将“本底”更改为“背底”(见7.6,2002年版的7.6);
h) 删除了能谱分析中谱线重叠修正的方法(见2002年版的8.5);
i) 更改了核查仪器稳定性的时间要求(见9.1,2002年版的9.1);
j) 增加了数值修约的要求(见10.3);
k) 增加了不确定度的影响因素(见10.5)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本文件起草单位:广东省科学院工业分析检测中心、中国科学院地质与地球物理研究所、中国科学
院化学研究所。
本文件主要起草人:伍超群、刘英坤、周鹏、毛骞、陈涵悦、王岩华、刘芬、管尽琼。
本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为:
---本文件于1994年首次发布,2002年第一次修订;
---本次为第二次修订。
微束分析 硫化物矿物的电子探针
定量分析方法
1 范围
本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱
线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。
本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿
物的电子探针定量分析。
本文件适用于以电子探针进行的定量分析,也适用于安装了波谱仪的扫描电子显微镜进行的定量
分析。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T 15074 电子探针定量分析方法通则
GB/T 17359 微束分析 能谱法定量分析
GB/T 17366 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法
GB/T 20725 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
GB/T 21636 微束分析 电子探针显微分析(EPMA)术语
3 术语和定义
GB/T 21636界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
硫化物矿物 sulfideminerals
由硫构成阴离子团的金属矿物。
3.2
光片 polishedsection
将岩石或矿石样品切割成一定大小,并将待观测面磨平、抛光的试样。
3.3
光薄片 polishedthinsection
将岩石或矿石样品切割成一定大......
|