GB/T 15651.3-2003 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 15651.3-2003 | 624 | GB/T 15651.3-2003 | [PDF]天数 <=4 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 15651.3-2003 (GB/T15651.3-2003) |
| 中文名称 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 |
| 英文名称 | Discrete semiconductor devices and integrated circuits -- Part 5-3: Optoelectronic devices Measuring methods |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L50 |
| 国际标准分类 | 31.260 |
| 字数估计 | 24,296 |
| 发布日期 | 2003-11-24 |
| 实施日期 | 2004-08-01 |
| 采用标准 | IEC 60747-5-3-1997, IDT |
| 标准依据 | China Announcement of Newly Approved National Standards No. 1, 2004 (No. 63 overall) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
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