GB/T 18032-2000 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 18032-2000 | 249 | GB/T 18032-2000 | [PDF]天数 <=3 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 18032-2000 (GB/T18032-2000) |
| 中文名称 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 |
| 英文名称 | The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H24 |
| 国际标准分类 | 77.040.01 |
| 字数估计 | 7,752 |
| 发布日期 | 2000-04-03 |
| 实施日期 | 2000-09-01 |
| 发布机构 | 国家质量技术监督局 |
| 范围 | 本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于5×10^5cm^-^2。 |
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