| 标准编号 | GB/T 22453-2025 (GB/T22453-2025) | | 中文名称 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 | | 英文名称 | Non-linear optical crystal devices measuring method for laser | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L51 | | 国际标准分类 | 31.260 | | 字数估计 | 22,215 | | 发布日期 | 2025-04-25 | | 实施日期 | 2025-08-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 22453-2008 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 22453-2025: 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法
ICS 31.260
CCSL51
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 22453-2008
激光用非线性光学晶体元件性能测量方法
2025-04-25发布
2025-08-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 测试条件 1
4.1 环境条件 1
4.2 测试仪器及计量要求 2
4.3 激光安全要求 2
5 测试方法 2
5.1 激光性能 2
5.1.1 二次谐波(SHG)工作波长 2
5.1.2 特定波长SHG临界相位匹配角 4
5.1.3 特定波长吸收率 6
5.1.4 光学均匀性 9
5.1.5 波前畸变 9
5.1.6 有效通光孔径 9
5.1.7 减反膜剩余反射率 9
5.1.8 激光损伤阈值 10
5.1.9 透光波长范围 10
5.1.10 散射点 11
5.2 环境适应性试验方法 12
5.2.1 膜层的抗高湿性能 12
5.2.2 膜层的抗温度冲击性能 12
6 测试报告内容 12
附录A(资料性) 典型非线性光学晶体的Selmeier方程 13
附录B(资料性) 临界相位匹配角计算公式 14
参考文献 15
图1 SHG临界相位匹配工作波长偏差原理框图 2
图2 SHG非临界相位匹配工作波长范围测试原理框图 3
图3 负单轴晶体相位匹配示意图 4
图4 正单轴晶体相位匹配示意图 4
图5 双轴晶体相位匹配方向示意图 4
图6 倍频转换效率测试原理框图 5
图7 吸收测试原理框图 8
图8 减反膜剩余反射率测试框图 10
图9 透光波长范围测试原理框图 10
图10 散射点测试原理框图 11
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件代替GB/T 22453-2008《硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法》,与GB/T 22453-
2008相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:
---增加了“术语和定义”(见第3章);
---删除了“主要测试项目”(见2008年版的第3章);
---更改了测试的环境要求、相对湿度(见第4章,2008年版的第4章);
---增加了“环境要求”“测试仪器及计量要求”“激光安全要求”(见4.1、4.2、4.3);
---更改了测试方法分类,由“物理性能”“加工性能”调整为“激光性能”,并将“光学不均匀性”改为
“光学均匀性”(见第5章,2008年版的第5章);
---增加了SHG工作波长、特定波长SHG临界相位匹配角、透光波长范围、膜层的抗高湿性能、
膜层的抗温度冲击的测试方法(见第5章);
---更改了特定波长吸收的测试方法(见第5章,2008年版的第5章);
---增加了特定波长吸收率的测试方法“光热透镜法”“分光光度计法”(见第5章);
---删除了尺寸公差、角度偏差、不平行度、不平面度、不垂直度、表面粗糙度等指标(见2008年版
的第5章);
---增加了测试报告(见第6章)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国机械工业联合会提出。
本文件由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本文件起草单位:中国科学院福建物质结构研究所、闽都创新实验室、福建福晶科技股份有限公司、
中国科学院空天信息创新研究院、中国电子科技集团公司第二十六研究所、江西省检验检测认证总院工
业产品检验检测院、北京雷生强式科技有限责任公司、成都东骏激光股份有限公司、中国电子科技集团
公司第十一研究所、中国兵器工业第二〇九研究所、大族激光科技产业集团股份有限公司、中国计量
大学。
本文件主要起草人:郑熠、王帅华、黄鑫、郑发鲲、吴少凡、麻云凤、张星、陈伟、丁雨憧、何彤斌、张戈、
朱建慧、周世斌、孙雨彤、郭丽、贾凯、秦来顺、李丙轩、陈旻、罗兴木、柴贤丹。
本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为:
---2008年首次发布为GB/T 22453-2008;
---本次为第一次修订。
激光用非线性光学晶体元件性能测量方法
1 范围
本文件规定了非线性光学晶体元件测试条件,描述了相应的测试方法,规定了测试报告内容的
要求。
本文件适用于低温相偏硼酸钡(β-BaB2O4,简称BBO)、三硼酸锂(LiB3O5,简称LBO)、磷酸二氢钾
(KH2PO4,简称 KDP)、磷酸钛氧钾(KTiOPO4,简称 KTP)、铌酸锂(LiNbO3,简称 LN)、硫镓银
(AgGaS2,简称AGS)、碘酸钾(KIO3)的测量活动。其他非线性光学晶体元件的测量活动参照使用。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
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