GB/T 2423.25-2008 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 2423.25-2008 | 559 | GB/T 2423.25-2008 | [PDF]天数 <=3 | 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 |
| GB/T 2423.25-1992 | 279 | GB/T 2423.25-1992 | [PDF]天数 <=3 | 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 2423.25-2008 (GB/T2423.25-2008) |
| 中文名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 |
| 英文名称 | Environmental testing - Part 2: Test methods - Test Z/AM: Combined cold / low air pressure tests |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | K04 |
| 国际标准分类 | 19.040 |
| 字数估计 | 14,193 |
| 发布日期 | 2008-12-30 |
| 实施日期 | 2009-10-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 2423.25-1992 |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第23号(总第136号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温(温度渐变或突变)和低气压综合试验, 见8.2.2和8.2.8。本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的低温-低气压综合环境的适应性。本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。本试验程序适用于气压大于1kPa的压力试验。当气压小于或等于1kPa时, 可不必考虑试验程序的内容。本部分没有指明高度 |
GB/T 2423.25-2008
Environmental testing.Part 2: Tests methods.Test Z/AM:Combined cold/low air pressure tests
ICS １９．０４０
K０４
中华人民共和国国家标准
GB/T ２４２３．２５-２００８／IEC ６００６８-２-４０：１９７６
代替GB/T ２４２３．２５-１９９２
电工电子产品 环境试验
第２部分：试验方法
试验Z／AM：低温／低气压综合试验
（IEC ６００６８-２-４０：１９７６，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ-
Ｐａｒｔ２：ＴｅｓｔｓＴｅｓｔＺ／ＡＭ：Ｃｏｍｂｉｎｅｄｃｏｌｄ／ｌｏｗａｉｒｐｒｅｓｓｕｒｅｔｅｓｔｓ，ＩＤＴ）
２００８-１２-３０发布 ２００９-１０-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
１ 引言 １
１．１ 概述 １
１．２ 低气压 １
１．３ 温度 １
１．４ 规范性引用文件 １
２ 目的 ２
３ 一般说明 ２
４ 试验设备 ２
４．１ 试验箱 ２
４．２ 安装 ２
５ 严酷度等级 ２
５．１ 一般要求 ２
５．２ 温度、气压和持续时间的优选组合 ２
６ 预处理 ２
７ 初始检测 ３
８ 条件试验 ３
８．１ 一般规定 ３
８．２ 无人工冷却的散热试验样品和非散热试验样品的试验程序 ３
８．３ 带人工冷却的试验样品进行试验时的注意事项 ３
９ 中间检测 ３
１０ 恢复 ４
１１ 最后检测 ４
１２ 相关规范中给出的资料 ４
附录ＮＡ（资料性附录） GB/T ２４２３标准的组成部分 ７
GB/T ２４２３．２５-２００８／IEC ６００６８-２-４０：１９７６
前言
GB/T ２４２３．２５是GB/T ２４２３标准的第２５部分。GB/T ２４２３标准的组成部分见资料性附录ＮＡ。
本部分等同采用国际电工委员会IEC ６００６８-２-４０：１９７６（第一版）《基本环境试验规程 第２部分：
试验 试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压综合试验》（英文版）及其修订１：１９８３。为便于使用，本部分做了下列
编辑性修改：
---为与新版IEC ６００６８的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子
产品环境试验”；
---“IEC ６００６８-２-４０：１９７６本部分”修改为“GB/T ２４２３．２５-２００８本部分”；
---删除了IEC ６００６８-２-４０：１９７６的前言和序；
---增加了国家标准的前言；
---增加了规范性引用文件一览表的引导语；引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并改变了
排列顺序；
---增加了资料性附录“GB/T ２４２３标准的组成部分”（见附录ＮＡ）。
本部分代替GB/T ２４２３．２５-１９９２《电工电子产品基本环境试验规程 试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压
综合试验》。本部分与GB/T ２４２３．２５-１９９２相比主要变化如下：
---GB/T ２４２３．２５-１９９２是参照采用国际电工委员会IEC ６００６８-２-４０：１９７６（第一版）《基本环境
试验规程 第２部分：试验 试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压综合试验》（英文版）及其修订１：１９８３，
本部分是等同采用；
---为与IEC 原文一致，本部分将图１和图２改为图１ａ）和图１ｂ），并置于正文最后；
---为与IEC 原文编写格式一致，本部分将４．１．１和４．１．２合并在一起；５．１．１、５．１．２和５．１．３合
并在一起；８．１．１和８．１．２合并在一起；
---本部分表１中没有列出与温度、气压对应的高度值，三者的关系见专门标准；并增加了以ｍｂａｒ
为单位的气压值；
---本部分８．２．８压力升高期间不要求温度控制。
本部分的附录 ＮＡ为资料性附录。
本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（ＳＡＣ/TＣ８）提出并归口。
本部分由广州电器科学研究院起草。
本部分主要起草人：胡利芬。
本部分所代替部分的历次版本发布情况为：
---GB ２４２３．２５-１９８１、GB/T ２４２３．２５-１９９２。
GB/T ２４２３．２５-２００８／IEC ６００６８-２-４０：１９７６
电工电子产品 环境试验
第２部分：试验方法
试验Z／AM：低温／低气压综合试验
１ 引言
１．１ 概述
GB/T ２４２３的本部分是关于散热和非散热试验样品低温（温度渐变或突变）和低气压综合试验，见
８．２．２和８．２．８。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的低温-低气压综合环境的适
应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的
试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。
本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。
１．２ 低气压
本试验程序适用于气压大于１ｋＰａ的压力试验。当气压小于或等于１ｋＰａ时，可不必考虑试验程
序的内容。
本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见专门标准。
１．３ 温度
１．３．１ GB/T ２４２３．１试验Ａ中有关非散热试验样品和散热试验样品试验应用对比的指导适用于本
部分。
注：非散热试验样品的定义按GB/T ２４２１相关的规定，不应在低气压下测量其最热点的温度。
１．３．２ GB/T ２４２３．１试验Ａ中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。
１．４ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T ２４２３的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本
部分。
GB/T ２４２１．１ 电工电子产品环境试验 第１部分：总则（GB/T ２４２１．１-２００８，IEC ６００６８-１：
１９８８，ＩＤＴ）
GB/T ２４２３．１ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验Ａ：低温（GB/T ２４２３．１-２００１，
IEC ６００６８-２-１：２００７，ＩＤＴ）
GB/T ２４２３．２１ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验 Ｍ：低气压（GB/T ２４２３．２１-
２００８，IEC ６００６８-２-１３：２００５，ＩＤＴ）
GB/T ２４２３．２２ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验Ｎ：温度变化（GB/T ２４２３．２２-
２００２，IEC ６００６８-２-１４：１９８４，ＩＤＴ）１）
GB/T ２４２４．１ 电工电子产品环境试验 高温低温试验导则（GB/T ２４２４．１-２００５，IEC ６００６......