GB/T 26074-2010 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 26074-2010 | 209 | GB/T 26074-2010 | [PDF]天数 <=3 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 26074-2010 (GB/T26074-2010) |
| 中文名称 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 |
| 英文名称 | Germanium monocrystal -- Measurement of resistivity -- DC linear four-point probe |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H17 |
| 国际标准分类 | 77.040.99 |
| 字数估计 | 9,987 |
| 发布日期 | 1/10/2011 |
| 实施日期 | 10/1/2011 |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2011年第1号(总第166号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。 |
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