| 标准编号 | GB/T 32988-2016 (GB/T32988-2016) | | 中文名称 | 人造石英光学低通滤波器晶片 | | 英文名称 | Synthetic quartz crystal wafer for optical low pass filter (OLPF) | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L21 | | 国际标准分类 | 31.160 | | 字数估计 | 14,159 | | 发布日期 | 2016-10-13 | | 实施日期 | 2017-09-01 | | 标准依据 | 国家标准公告2016年第17号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 32988-2016
Synthetic quartz crystal wafer for optical low pass filter (OLPF)
ICS 31.160
L21
中华人民共和国国家标准
人造石英光学低通滤波器晶片
2016-10-13发布
2017-09-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 分级 3
5 要求 4
5.1 晶片 4
5.2 尺寸与角度 4
5.3 晶片表面疵病 5
5.4 晶片的面形偏差 6
6 测试方法 6
6.1 包裹体和裂纹 6
6.2 条纹 6
6.3 尺寸 6
6.4 切向和角度偏差 6
6.5 倒角和倒边 6
6.6 垂直度 7
6.7 TV5 7
6.8 表面疵病 7
6.9 面形偏差 7
7 检验规则 8
7.1 抽样方案 8
7.2 判定规则 8
7.3 型式检验 8
8 包装、标识、交货条件 8
8.1 包装 8
8.2 标识 8
8.3 交货条件 8
参考文献 9
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国建筑材料联合会提出。
本标准由全国人工晶体标准化技术委员会(SAC/TC461)归口。
本标准起草单位:烁光特晶科技有限公司、浙江水晶光电科技股份有限公司。
本标准主要起草人:张绍锋、张璇、孙志文、王保新、尚继武、邱欢、华大辰。
人造石英光学低通滤波器晶片
1 范围
本标准规定了人造石英光学低通滤波器晶片术语和定义、分级、要求、测试方法、检验规则及包装、
标识、交货条件。
本标准适用于人造石英光学低通滤波器晶片。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1185 光学零件表面疵病
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验 抽
样计划 (ISO 2859-1:1999)
GB/T 2831 光学零件的面形偏差
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 7895 人造光学石英晶体
GB/T 7896-2008 人造光学石英晶体试验方法
3 术语和定义
GB/T 7895、GB/T 1185和GB/T 2831界定的以及下列术语和定义适用于本文件。为了便于使
用,以下重复列出了上述某些术语和定义。
3.1
光学低通滤波器晶片 opticallow-passfilterwafer;OLPFwafer
用石英晶体等材料制作,其单片或多片组合并镀膜后,让某一频率以下的光信号分量通过,而抑制
该频率以上的光信号分量的光学基片。
3.2
有效区域 fixedqualityarea;FQA
去除晶片边缘特定距离X 的晶体表面中心区域。参考图1虚线所包含的区域。
注:FQA的边界通常指与晶片的边缘(包括基准边)相距X 的所有点。
[IEC 62276-2005,定义3.7.1]
3.3
包裹体 inclusions
将晶体浸在折射率匹配液中,由光源的散射光来观测人造石英晶体中可见的外来......
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