GB/T 34326-2026 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 34326-2026 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 |
| GB/T 34326-2017 | 359 | GB/T 34326-2017 | [PDF]天数 <=4 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 34326-2026 (GB/T34326-2026) |
| 中文名称 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 |
| 英文名称 | Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | G04 |
| 国际标准分类 | 71.040.40 |
| 发布日期 | 2026-01-28 |
| 实施日期 | 2026-08-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 34326-2017 |