| 标准编号 | GB/T 35006-2018 (GB/T35006-2018) | | 中文名称 | 半导体集成电路 电平转换器测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits -- Measuring method of level converter | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 30,365 | | 发布日期 | 2018-03-15 | | 实施日期 | 2018-08-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 35006-2018
Semiconductor integrated circuits--Measuring method of level converter
ICS 31.200
L56
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
电平转换器测试方法
2018-03-15发布
2018-08-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 总则 2
4.1 测试环境要求 2
4.2 测试注意事项 2
5 功能测试 2
5.1 目的 2
5.2 测试原理图 2
5.3 测试程序 3
5.4 测试条件 3
6 静态参数测试 3
6.1 输入钳位电压(VIK) 3
6.2 输入高电平电压(VIH) 4
6.3 输入低电平电压(VIL) 5
6.4 输出高电平电压(VOH) 5
6.5 输出低电平电压(VOL) 5
6.6 输入高电平电流(IIH) 5
6.7 输入低电平电流(IIL) 5
6.8 输出高电平电流(IOH) 5
6.9 输出低电平电流(IOL) 6
6.10 输出高阻态时高电平电流(IOZH) 7
6.11 输出高阻态时低电平电流(IOZL) 8
6.12 静态电流(ICCQ) 9
6.13 电流偏移量(ΔICCQ) 9
6.14 输出对地短路电流(IOSL) 10
6.15 输出对电源短路电流(IOSH) 11
6.16 开启电阻(RON) 12
6.17 通道间开启偏移电阻(ΔRON) 13
7 动态参数测试 14
7.1 电源电流(ICC) 14
7.2 最高工作频率(fMAX) 14
7.3 最低工作频率(fMIN) 15
7.4 输入电容(CI)和输出电容(CO) 16
7.5 输出由低电平到高电平传输延迟时间(tPLH) 16
7.6 输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL) 17
7.7 输出由高阻态到高电平传输延迟时间(tPZH) 18
7.8 输出由高阻态到低电平传输延迟时间(tPZL) 18
7.9 输出由高电平到高阻态传输延迟时间(tPHZ) 19
7.10 输出由低电平到高阻态传输延迟时间(tPLZ) 20
7.11 输出由低电平到高电平转换时间(tTLH) 21
7.12 输出由高电平到低电平转换时间(tTHL) 22
7.13 眼图高度(eH) 23
7.14 眼图宽度(eW) 24
7.15 确定性抖动(Dj) 25
7.16 随机抖动(Rj) 25
7.17 总抖动(Jt) 26
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。
本标准起草单位:深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息
化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。
本标准主要起草人:宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬。
半导体集成电路
电平转换器测试方法
1 范围
本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。
本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
被测器件 deviceundertest;DUT
测试过程中的被测对象。
3.2
测试适配板 loadboard
用于被测器件与自动测试系统(ATE)连接的转接板或应用测试板。
3.3
参考电平 referencevoltage
在测试过程中,测试系统的输......
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