GB/T 36655-2018 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 36655-2018 | 199 | GB/T 36655-2018 | [PDF]天数 <=3 | 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 36655-2018 (GB/T36655-2018) |
| 中文名称 | 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 |
| 英文名称 | Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging -- XRD method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L90 |
| 国际标准分类 | 31.030 |
| 字数估计 | 10,117 |
| 发布日期 | 2018-09-17 |
| 实施日期 | 2019-01-01 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 |
GB/T 36655-2018
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging - XRD method
ICS 31.030
L90
中华人民共和国国家标准
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体
二氧化硅含量的测试方法 XRD法
2018-09-17发布
2019-01-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
中国国家标准化管理委员会 发 布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。
本标准起草单位:国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高
华威电子有限公司。
本标准主要起草人:封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪。
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体
二氧化硅含量的测试方法 XRD法
1 范围
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量,其他无定形二氧化硅
含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5%
定量分析。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
JY/T 009 转靶多晶体X射线衍射方法通则
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
采用火焰成球法、高温熔融喷射法或等离子体法制备,应用于电子封装领域的球形二氧化硅微粉。
4 方法原理
晶体二氧化硅和无定形二氧化硅在特征X射线照射下各自具有特有的X射线散射花样,晶体二氧
化硅的散射强度与其含量成比例。
5 仪器设备和管理样品
5.1 仪器设备
5.1.1 多晶X射线衍射仪
带微机、铜靶、狭缝、滤波片并......