| 标准编号 | GB/T 42838-2023 (GB/T42838-2023) | | 中文名称 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits - Measuring method of Holzer circuit | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 14,122 | | 发布日期 | 2023-08-06 | | 实施日期 | 2023-12-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 42838-2023: 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
霍尔电路测试方法
2023-08-06发布
2023-12-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有
限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。
本文件主要起草人:尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广。
半导体集成电路
霍尔电路测试方法
1 范围
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路(以下称为器件)电特性测试方法。
本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
工作点磁感应强度 magneticoperatepoint
在工作点上垂直穿过单位面积的磁力线的数量。
3.2
释放点磁感应强度 magneticreleasepoint
在释放点上垂直穿过单位面积的磁力线的数量。
3.3
回差 returndifference
BH
在仪表全部测量范围内,被测量值上行和下行所得到的两条特性曲线之间的最大偏差。
3.4
输出上升时间 ......
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