GB/T 42968.2-2024 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 42968.2-2024 | 484 | GB/T 42968.2-2024 | [PDF]天数 <=4 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 42968.2-2024 (GB/T42968.2-2024) |
| 中文名称 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
| 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 24,275 |
| 发布日期 | 2024-10-26 |
| 实施日期 | 2024-10-26 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
GB/T 42968.2-2024: 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁抗扰度测量
第2部分:辐射抗扰度测量
TEM小室和宽带TEM小室法
TEMcelmethod
(IEC 62132-2:2010,IDT)
2024-10-26发布
2024-10-26实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 概述 2
5 试验条件 3
6 试验设备 3
6.1 通则 3
6.2 电缆 3
6.3 RF骚扰源 3
6.4 TEM小室 3
6.5 GTEM小室 4
6.6 50Ω终端 4
6.7 DUT监测设备 4
7 试验布置 4
7.1 通则 4
7.2 试验布置 4
7.3 EMC试验板 6
8 试验程序 6
8.1 通则 6
8.2 抗扰度测量 6
9 试验报告 8
附录A(规范性) 场强特性测量程序 9
附录B(资料性) TEM小室和GTEM小室描述 16
参考文献 17
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 42968《集成电路 电磁抗扰度测量》的第2部分。GB/T 42968已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第4部分:射频功率直接注入法;
---第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC 62132-2:2010《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量
TEM小室和宽带TEM小室法》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳
科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科
技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大
学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测
有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院。
本文件主要起草人:付君、崔强、黄雪梅、乔彦彬、吴建飞、方文啸、朱赛、亓新、李旸、梁吉明、谢玉章、
张红升、熊伟杰、张艳艳、周昕、郑益民、王雪、熊璞、张金玲、麦强、康志能、陈梅双。
引 言
为规范集成电路电磁抗扰度测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量
方法,GB/T 42968规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件、定义和不同测量方法的试验程序和试
验要求,拟由7个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义。
---第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽
带TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:大电流注入(BCI)法。目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求。
---第4部分:射频功率直接注入法。目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求。
---第5部分:工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法。目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求。
---第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁抗扰度测量
第2部分:辐射抗扰度测量
TEM小室和宽带TEM小室法
1 范围
本文件描述了集成电路(IC)对射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。
本文件适用的频率范围为150kHz~1GHz或为TEM小室和宽带TEM 小室的特性决定的频率
范围。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
(IEV)-Part131:Circuittheory)
注:GB/T 2900.74-2008 电工术语 电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)
注:GB/T 4365-2003 电工术语 电磁兼容(idtIEC 60050-161:1990)
IEC 61967-2 集成电路 电磁发射测量150kHz~1GHz 第2部分:辐射发射测量 TEM小室
IEC 62132-1:2006 集成电路 电磁抗扰度测量150kHz~1GHz 第1部分:通用条件和定义
注:GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义(IEC 6213......