| 标准编号 | GB/T 44937.3-2025 (GB/T44937.3-2025) | | 中文名称 | 集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 | | 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 30,343 | | 发布日期 | 2025-12-31 | | 实施日期 | 2026-07-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 44937.3-2025: 集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁发射测量
第3部分:辐射发射测量 表面扫描法
(IEC TS61967-3:2014,IDT)
2025-12-31发布
2026-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、定义和缩略语 1
3.1 术语和定义 1
3.2 缩略语 2
4 通用要求 2
5 试验条件 2
5.1 通则 2
5.2 电源电压 2
5.3 频率范围 2
6 试验设备 3
6.1 通则 3
6.2 屏蔽 3
6.3 RF测量仪器 3
6.4 前置放大器 3
6.5 电缆 3
6.6 近场探头 3
7 试验布置 5
7.1 通则 5
7.2 试验配置 5
7.3 试验电路板 6
7.4 探头定位系统软件配置 6
7.5 DUT软件 6
8 试验程序 6
8.1 通则 6
8.2 环境条件 6
8.3 运行检查 7
8.4 试验技术 7
9 试验报告 7
9.1 通则 7
9.2 测量条件 8
9.3 探头设计和校准 8
9.4 测量数据 8
9.5 后处理 8
9.6 数据交换 8
附录A(规范性) 近场探头校准 9
A.1 通则 9
A.2 试验设备 10
A.3 校准布置 11
A.4 校准程序 12
附录B(资料性) 单独的电场和磁场探头 15
B.1 概述 15
B.2 探头的电特性描述 15
B.3 探头的物理描述 15
附录C(资料性) 电场和磁场复合探头示例 17
C.1 概述 17
C.2 探头的电特性描述 17
C.3 探头的物理描述 17
C.4 测量和数据采集系统 18
附录D(资料性) 坐标系 20
D.1 通则 20
D.2 笛卡尔坐标系 20
D.3 柱坐标系 20
D.4 球坐标系 21
D.5 坐标系的转换 21
参考文献 23
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》的第3部分。GB/T 44937已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法;
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法;
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法;
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法;
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC TS61967-3:2014《集成电路 电磁发射测量 第3部分:辐射发射测量 表
面扫描法》,文件类型由IEC 的技术规范调整为我国的国家标准。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯(青岛)微电
子有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中国合格评定国家认可中心、
天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、浙江大学、南京容向测试设备有限公司、北京航
空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中山大学、深圳市中兴微电子技术有限公司、
河南省电子信息产品质量检验技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、中国信息通信研究院、南京师
范大学、中家院(北京)检测认证有限公司、深圳硅山技术有限公司。
本文件主要起草人:崔强、龙跃、付君、阎照文、褚瑞、方文啸、吴建飞、杨红波、王新才、朱赛、张学磊、
陈梅双、刘佳、梁吉明、邵伟恒、魏兴昌、沈学其、雷黎丽、龙发明、谢利涛、杨博、王紫任、颜伟、王芳、
韦寿德。
引 言
为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方
法,GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测
量方法的试验程序和试验要求,拟由9个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
---第1-1部分:通用条件和定义 近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换
格式。
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带
TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的
试验程序和试验要求。
---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直
接耦合法应用指导。
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序
和试验要求。
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁发射测量
第3部分:辐射发射测量 表面扫描法
1 范围
本文件描述了评估集成电路(IC)表面或附近的近电场、近磁场或近电磁场分量的测量方法。本测
量方法旨在用于IC的架构分析,例如平面规划和配电优化。本测量方法也适用于测量扫描探头能够靠
近的、安装在任何电路板上的IC。某些情况下,本测量方法不仅能扫描IC,还能扫描IC的环境。为了
对比不同IC的表面扫描发射,宜使用IEC 61967-1规定的标准试验板。
本测量方法提供了IC上方的电场或磁场的近场发射图。测量探头的性能和探头定位系统的精度
决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6GHz。使用现有探头技术可以扩展上限频率范
围,但这超出了本文件的范围。测量能在频域进行,也能在时域进行。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
(IEV)-Part131:Circuittheory]
注:GB/T 2900.74-2008 电工术语 电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)
注:GB/T 4365-2024 电工术语 电磁兼容(IEC 60050-161:2021,MOD)
IEC 61967-1 集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义(Integratedcircuits-Meas-
注:GB/T 44937.1-2025 集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义(IEC 61967-1:2018,IDT)
3 术语、定义和缩略语
3.1 术语和定义
IEC 61967-1、IEC 60050-131和IEC 60050......
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