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| 标准编号 | GB/T 47598-2026 (GB/T47598-2026) | | 中文名称 | 声光晶体 | | 英文名称 | Acousto-optic crystals | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | Q65 | | 国际标准分类 | 31.260 | | 字数估计 | 18,141 | | 发布日期 | 2026-05-25 | | 实施日期 | 2026-12-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 47598-2026: 声光晶体
GB/T 47598-2026 英文版: Acousto-optic crystals
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
ICS 31.260CCS Q 65
声 光 晶 体
2026⁃05⁃25 发布
2026⁃12⁃01 实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
1 范围
本文件规定了声光晶体的技术要求、检验规则，以及产品的标识、包装、运输和贮存，描述了相应的
测量方法。
本文件适用于制备声光器件的声光晶体，其他应用领域的晶体材料参照使用。
4 技术要求
4.1 声光优值
同批次产品的声光优值偏差±8%。
适用时，常见声光晶体应符合表 1 要求。
4.2 透射光谱范围
声光晶体的透射光谱范围应符合相关详细规范规定。
常见声光晶体应符合以下要求：
a） TeO₂：≥0.35 μm~5.00 μm；
b） PbMoO₄：≥0.40 μm~5.50 μm；
c） α⁃SiO₂：≥0.10 μm~4.50 μm；
d） GaAs：≥0.90 μm~15.00 μm。
4.3 散射点
适用时，声光晶体单位体积（cm3）内直径≤10 μm 的散射点应≤10 个、10 μm~20 μm 的散射点应
≤4 个，不应有直径>20 μm 的散射点。
4.4 光学均匀性
声光晶体的光学均匀性应≤5×10-5。
4.5 光学透过率
适用时，常见声光晶体应符合以下要求：
a） TeO₂：≥70% @1 064 nm；
b） PbMoO₄：≥70% @1 064 nm；
c） α⁃SiO₂：≥85% @1 064 nm；
d） GaAs：≥50%@1 064 nm。
4.6 残余双折射
适用时，常见声光晶体残余双折射应符合以下要求：
TeO₂：≤3.0×10-5@1 064 nm；
PbMoO₄：≤1.0×10-5@1 064 nm；
α⁃SiO₂：≤5.0×10-6@1 064 nm；
GaAs：≤5.0×10-6@1 064 nm。
4.7 消光比
常见声光晶体的消光比应符合以下要求：
TeO₂：≥60 dB；
PbMoO₄：≥55 dB；
α⁃SiO₂：≥45 dB；
GaAs：≥30 dB。
4.8 激光损伤阈值
声光晶体的激光损伤阈值应符合表 2 规定。
4.9 尺寸公差
尺寸公差应符合以下要求，尺寸标注示意图见图 1：
a） 当 L≥4 mm 时，尺寸应为 W +0.1-0.1 mm × H +0.1-0.1 mm × L+0.5-0.5 mm；
b） 当 0.2≤L<4 mm 时，尺寸应为 W +0.1-0.1 mm × H +0.1-0.1 mm × L+0.1-0.1 mm；
c） 当 L<0.2 mm 时，尺寸应为 W +0.1-0.1 mm × H +0.1-0.1 mm × L+0.03-0.03 mm。
其中，W 为声光晶体通光面的宽度，H 为声光晶体通光面的高度，L 为声光晶体通光方向的长度。
4.10 角度偏差
声光晶体的切割角度偏差要求：
-0.5°≤Δθ≤0.5°，-0.5°≤Δϕ≤0.5°。
注： θ指晶体切割面的法线方向，与晶体的某一参考晶轴之间的夹角，Δθ为实际切割的 θ角与理论设计值的差值。ϕ
指在垂直于参考晶轴的平面内，切割面法线的投影与某一参考晶轴之间的夹角；Δϕ指实际切割的 ϕ角与理论设
计值的差值。
4.11 平行度
声光晶体两个通光面的平行度应≤30″。
4.12 倒角
声光晶体倒角的宽度≤0.2 mm，倒角的角度 40°≤Φ≤50°。
4.13 侧面垂直度
声光晶体侧面垂直度应≤10′。
4.14 有效通光孔径
声光晶体通光表面扣除四周倒角后的可用面积与整个通光面面积的比值为有效通光孔径，其应≥85%。
4.15 单次透过波前畸变
声光晶体通光面的单次透过波前畸变应≤λ/4@632.8 nm。
4.16 表面粗糙度
声光晶体通光面的表面粗糙度 Ra≤1 nm，非通光面的表面粗糙度 Ra≤3.0 μm。
4.17 外观
沿边缘向内侧方向延伸宽度（径向崩边）≤0.2 mm；沿边缘方向，崩口宽度之和≤0.5 mm；角的崩
裂≤0.2 mm。适用时，声光晶体的表面疵病应符合表 3 要求。
5 测量方法
5.1 声光优值
声光优值的测量方法按照附录 A 执行。
5.2 透射光谱范围
声光晶体的透射光谱范围测量方法按 GB/T 22453-2025 的规定。
5.3 散射点
声光晶体的散射点测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.4 光学均匀性
声光晶体光学均匀性的测量方法按 GB/T 7962.2-2010 的规定。
5.5 光学透过率
在规定的测试波长下，声光晶体光学透过率的测量方法按 GB/T 36403-2018 的规定。
5.6 残余双折射
声光晶体残余双折射的测量方法按 GB/T 14077-1993 的规定。
5.7 消光比
声光晶体消光比的测量方法按 GB/T 11297.12-2012 的规定。
5.8 激光损伤阈值
声光晶体的激光损伤阈值的测量方法按 GB/T 16601.2-2017 的规定。
5.9 尺寸公差
声光晶体的尺寸公差的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.10 角度偏差
声光晶体的角度偏差的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.11 平行度
声光晶体的平行度的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.12 倒角
声光晶体的倒角的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.13 侧面垂直度
声光晶体的侧面垂直度的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.14 有效通光孔径
声光晶体的通光孔径的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.15 单次透过波前畸变
声光晶体的单次透过波前畸变的测量方法按 GB/T 11297.1-2017 的规定。
5.16 表面粗糙度
声光晶体的表面粗糙度的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
5.17 外观
声光晶体的表面疵病、崩边、崩口及崩裂的测量方法按 GB/T 22452-2025 的规定。
6 检验规则
6.1 检验分类
检验分为出厂检验与型式检验，检验项目见表 4。
6.2 出厂检验
6.2.1 产品需经生产厂质量检测部门检验合格，并附有合格证后方可出厂。
6.2.2 出厂检验项目应按表 4 所列出厂检验项目进行检验。
6.2.3 抽样方案：每一件产品出厂前都应按表 4 所列出厂检验项目进行检验。
6.3 型式检验
6.3.1 检验项目
按表 4 所列型式检验项目进行检验。
6.3.2 批的组成
以同一加工工艺条件制成的产品为一批。
6.3.3 抽样
在出厂检验合格的产品中随机抽取 3 件；如果产品数量不足 3 件，则全部抽取。
6.3.4 型式检验条件
在保证产品质量的前提下，正常生产时，每 6 个月至少进行 1 次型式检验；有下列情况之一时，也
应进行型式检验：
a） 新产品投产时；
b） 制备工艺有较大改变，可能影响产品质量时；
c） 出厂检验结果与最近一次型式检验结果有差异时；
d） 停产半年以上的；
e） 客户要求进行试验的；
f） 质检部门要求进行的情况。
6.3.5 判定规则
产品按第 5 章规定的测量方法进行检验，其结果应符合第 4 章相关条款的技术要求。
检验结果符合本文件要求的，则判定该产品为合格。如有不合格，可自同批产品中加倍抽样，对不
合格项进行复检。复检结果如都合格，则该产品为合格；复检结果如仍有不合格，则判定该产品为不
合格。
7 标识、包装、运输和贮存
7.1 标识
7.1.1 在检验合格的产品合格证上应注明下列内容：
a）......
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