GB/T 4937.41-2026 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 4937.41-2026 | 374 | GB/T 4937.41-2026 | [PDF]天数 <=4 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 4937.41-2026 (GB/T4937.41-2026) |
| 中文名称 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 |
| 英文名称 | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Test method for reliability of non-volatile memory devices |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L40 |
| 国际标准分类 | 31.080.01 |
| 字数估计 | 18,114 |
| 发布日期 | 2026-02-27 |
| 实施日期 | 2026-09-01 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
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