GB/T 5095.2503-2021 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 264 | GB/T 5095.2503-2021 | [PDF]天数 <=3 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5095.2503-2021 (GB/T5095.2503-2021) |
| 中文名称 | |
| 英文名称 | Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L23 |
| 字数估计 | 14,134 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 |
GB/T 5095.2503-2021
Electromechanical components for electronic equipment -- Basic testing procedures and measuring methods -- Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
ICS 31.220.10
L23
中华人民共和国国家标准
电子设备用机电元件
基本试验规程及测量方法
第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
2021-03-09发布
2021-10-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 总则 1
1.1 范围和目的 1
1.2 术语和定义 1
2 试验设施 1
2.1 设备 1
2.2 装置 2
3 试验样品 2
3.1 说明 2
4 试验程序 3
4.1 插入法 3
4.2 标准装置法 3
4.3 上升时间衰减计算 3
5 相关标准应规定的细则 3
6 试验记录文件 3
附录A(规范性附录) 装置和设备示意图 5
附录B(资料性附录) 实用指南 8
前言
GB/T 5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T 5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下:
---第25-1部分:试验25a:串扰比;
---第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗);
---第25-3部分:试验25c:上升时间衰减;
---第25-4部分:试验25d:传输时延;
---第25-5部分:试验25e:回波损耗;
---第25-6部分:试验25f:眼图和抖动;
---第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR);
---第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰。
本部分为GB/T 5095的第25-3部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC 60512-25-3:2001《电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部
分:试验25c:上升时间衰减》。
本部分做了下列编辑性修改:
---标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》修改为
《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。
电子设备用机电元件
基本试验规程及测量方法
第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
1 总则
1.1 范围和目的
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
1.2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
1.2.1
上升时间衰减 risetimedegradation
样品插入传输通道时,达到理论上理想的(零上升时间)电压阶跃的上升时间增量(见图1)。采用
的高斯信号从10%~90%的上升时间衰减的计算式见式(1):
Tr,d= (Tr)2-(Tr,m)2 (1)
式中:
Tr,d ---上升时间衰减;
Tr ---测量的上升时间;
Tr,m---测量系统上升时间。
1.2.2
安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是从10%~90%
电平的上升时间(见图1)。
1.2.3
由装置在样品信号导线上引起的阻抗。该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器和信号源以
及装置的寄生效应产生的。
1.2.4
上升时间 risetime
发生电压阶跃所需的时间,通常测量的是从10%~9......