GB/T 8759-1988 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 8759-1988 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 8759-1988 (GB/T8759-1988) |
| 中文名称 | 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
| 英文名称 | Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 发布日期 | 2/25/1988 |
| 采用标准 | ASTM T26-1984, MOD |
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