GBZ21738-2008 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/Z 21738-2008 | 209 | GB/Z 21738-2008 | [PDF]天数 <=3 | 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/Z 21738-2008 (GB/Z21738-2008) |
| 中文名称 | 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 |
| 英文名称 | Fundamental structures of one dimensional nanomaterials -- High resolution electron microscopy characterization |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | N30 |
| 国际标准分类 | 17.180.01 |
| 字数估计 | 9,923 |
| 发布日期 | 2008-05-08 |
| 实施日期 | 2008-11-01 |
| 引用标准 | GB/T 19619 |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第7号(总第120号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国卫生部 |
| 范围 | 本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理, 术语和定义, 仪器和设备, 样品制备, 测量程序, 结果表示以及试验报告等。本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构, 元素组分, 截面及界面原子排布等。 |
GB/Z 21738-2008
Fundamental structures of one dimensional nanomaterials.High resolution electron microscopy characterization
ICS １７．１８０．０１
N３０
中华人民共和国国家标准化指导性技术文件
GB ／Z２１７３８-２００８
一维纳米材料的基本结构 高分辨透射
电子显微镜检测方法
２００８-０５-０８发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会提出。
本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会归口。
本指导性技术文件起草单位：中国科学院物理研究所电子显微镜实验室。
本指导性技术文件主要起草人：李建奇。
GB ／Z２１７３８-２００８
一维纳米材料的基本结构 高分辨透射
电子显微镜检测方法
１ 范围
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原
理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。
本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分
布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本指导性技术文件的引用而成为本指导性技术文件的条款。凡是注日期的
引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本指导性技术文件，然而，鼓
励根据本指导性技术文件达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用
文件，其最新版本适用于本指导性技术文件。
GB/T １９６１９ 纳米材料术语
３ 术语和定义
GB/T １９６１９确立的以及下列术语和定义适用于本指导性技术文件。
３．１
纳米材料的形状为丝线状，通常包括纳米纤维、纳米管、纳米线、纳米带。
３．２
在两维方向上为纳米尺度，第三维方向为宏观尺度的新型纳米材料。
３．３
点分辨率可达原子层次的透射电子显微镜。在低倍图形模式可以对各种材料进行直接形貌观察，
粒度分析。采用电子衍射分析及高分辨电子显微术可以对材料进行晶体结构研究。配合能谱仪可以对
各种元素进行定性、定量及半定量的微区元素组分分析，是一种图像和能谱结合的综合表征手段。
４ 原理
电子具有波动性，与物质相互作用时将发生衍射现象。物质的三维周期性分布可以用晶体点阵及
其倒易点阵描述。晶体点阵的单胞基矢犪，犫，犮和倒易点阵的单胞基矢犪，犫，犮满足下列倒易关系，
犪·犪＝犫·犫＝犮·犮＝１，犪·犫＝犪·犫＝犫·犮＝犫·犮＝犮·犪＝犮·犪＝０。当衍射矢量等于倒易
矢量时电子波发生强衍射。根据上述基本原理制造的透射电子显微镜是研究物质微观结构的强有力工
具之一［１］。它由电子光学系统、真空系统、供电控制系统和附加仪器系统四大部分组成。最主要的电子
光学系统，分为照明系统，成像系统和照相系统三个部分。照明部分由电子枪和双聚光镜等组成。成像
部分由物镜、中间镜和投影镜等组成。图１......