JB/T 6842-1993 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| JB/T 6842-1993 | 479 | JB/T 6842-1993 | [PDF]天数 <=3 | 扫描电子显微镜试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | JB/T 6842-1993 (JB/T6842-1993) |
| 中文名称 | 扫描电子显微镜试验方法 |
| 英文名称 | Test method of scanning electron microscope |
| 行业 | 机械行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | N33 |
| 字数估计 | 12,158 |
| 发布日期 | 7/9/1993 |
| 实施日期 | 1/1/1994 |
| 旧标准 (被替代) | ZB Y340-85 |
| 引用标准 | GB 7667; ZB N30005; JB/T 5384; JB 5517 |
| 范围 | 本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。本标准适用于扫描电镜主机性能的试验。 |
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