JB/T 8268-2015 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| JB/T 8268-2015 | 179 | JB/T 8268-2015 | [PDF]天数 <=3 | 静电复印光导体表面缺陷测量方法 |
| JB/T 8268-1999 | 199 | JB/T 8268-1999 | [PDF]天数 <=2 | 静电复印感光体表面缺陷 测量方法 |
| JB/T 8268-1995 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | (标准) |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | JB/T 8268-2015 (JB/T8268-2015) |
| 中文名称 | 静电复印光导体表面缺陷测量方法 |
| 英文名称 | Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process |
| 行业 | 机械行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | N47 |
| 国际标准分类 | 37.100.10 |
| 字数估计 | 5,551 |
| 发布日期 | 2015-04-30 |
| 实施日期 | 2015-10-01 |
| 旧标准 (被替代) | JB/T 8268-1999 |
| 引用标准 | JB/T 8271; JB/T 8273 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第6号(总第186号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。 |
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