| 标准编号 | JJF 1092-2002 (JJF1092-2002) | | 中文名称 | 光切显微镜校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification for Light. Section Microscopes | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | N32;A60 | | 字数估计 | 14,112 | | 发布日期 | 2002-11-04 | | 实施日期 | 2003-05-04 | | 旧标准 (被替代) | JJG 76-1980 | | 引用标准 | JJF 1001-1998; JJF 1059-1999; GB/T 1031-1995 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本标准适用于光切显微镜的校准。 | JJF 1092-2002
Calibration Specification for Light.Section Microscopes
中华人民共和国国家计量技术规范
光切显微镜校准规范
2002-11-04发布
2003-05-04实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
光切显微镜校准规范
es
代替JJG76-1980
本校准规范经国家质量监督检验检疫总局于2002年11月4日批准,
并自2003年5月4日起施行。
归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:广西计量测试研究所
陕西省计量测试研究所
上海光学仪器研究所
本规范委托归口单位负责解释
本规范主要起草人:
全贻智 (广西计量测试研究所)
张 磊 (陕西省计量测试研究所)
张兴德 (上海光学仪器研究所)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 测微目镜视场及示值误差 (1)
4.2 狭缝像两边缘的直线度和平行度 (2)
4.3 工作台纵横向导轨移动平面对工作台表面的平行度 (2)
4.4 狭缝像在垂直方向的弯曲度 (2)
4.5 托架受20N侧向力时引起物方像的位移 (2)
4.6 仪器示值误差 (2)
5 校准条件 (3)
5.1 环境条件 (3)
5.2 测量标准器及其他设备 (3)
6 校准项目和校准方法 (3)
6.1 测微目镜视场及示值误差 (3)
6.2 狭缝像两边缘的直线度和平行度 (4)
6.3 工作台纵横向导轨移动平面对工作台表面的平行度 (4)
6.4 狭缝像在垂直方向上的弯曲度 (4)
6.5 托架受20N侧向力时引起物方像的位移 (4)
6.6 仪器示值误差 (4)
7 校准结果的表达 (6)
8 复校时间间隔 (6)
附录A 仪器示值误差校准结果的测量不确定度评定 (7)
附录B 校准证书内容 (9)
光切显微镜校准规范
1 范围
本规范适用于光切显微镜的校准。
2 引用文献
本规范引用下列文献:
JJF1001-1998 通用计量术语及定义
JJF1059-1999 测量不确定度评定与表示
GB/T 1031-1995 表面粗糙度参数及其数值
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
光切显微镜外形结构如图1所示,它以光切法测量原理 (图2)测量表面粗糙度的
轮廓峰高和谷深,其测量范围 (1.0~80)μm。
图 1
4 计量特性......
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