| 标准编号 | JJF 1120-2004 (JJF1120-2004) | | 中文名称 | 热电离同位素质谱计校准规范 | | 英文名称 | Calibration specification for thermal ionization isotope mass spectrometers | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | N54 | | 字数估计 | 17,143 | | 发布日期 | 2004-06-04 | | 实施日期 | 2004-09-01 | | 引用标准 | JJF 1001-1998; JJF 1059-1999; GB/T 15481-2000 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本标准适用于各种不同类型的热电离同位素质谱计(以下简称质谱计)的校准。 | JJF 1120-2004
Calibration specification for thermal ionization isotope mass spectrometers
中华人民共和国国家计量技术规范
热电离同位素质谱计校准规范
2004-06-04发布
2004-09-01实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
热电离同位素质谱计校准规范
ectrometers
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2004年06月04日批准,并自
2004年09月01日起施行。
归 口 单 位: 全国物理化学计量技术委员会
起草单位:国家标准物质研究中心
本规范由归口单位负责解释
本规范起草人:
赵墨田(国家标准物质研究中心)
王军(国家标准物质研究中心)
逯海(国家标准物质研究中心)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 术语和计量单位 (1)
3.1 同位素丰度 (1)
3.2 同位素丰度比 (1)
3.3 质量范围 (1)
3.4 分辨率 (1)
3.5 峰形系数 (1)
3.6 系统稳定性 (1)
3.7 灵敏度 (离子产率) (1)
3.8 丰度灵敏度 (2)
3.9 测量重复性 (2)
3.10 分馏效应 (2)
3.11 质量歧视 (2)
3.12 记忆效应 (2)
4 概述 (2)
5 计量特性 (2)
6 校准条件 (3)
6.1 实验室环境 (3)
6.2 校准设备 (3)
6.3 同位素标准物质 (3)
6.4 校准对象的检查和调整 (3)
7 校准项目和校准方法 (4)
7.1 分辨率校准 (4)
7.2 灵敏度校准 (5)
7.3 丰度灵敏度校准 (5)
7.4 峰形系数校准 (5)
7.5 系统稳定度校准 (6)
7.6 内重复性校准 (6)
7.7 外重复性校准 (7)
8 校准结果的表达 (8)
9 复校时间间隔 (8)
附录A 校准记录格式 (9)
附录B 热电离同位素质谱计校准证书格式 (11)
热电离同位素质谱计校准规范
1 范围
本规范适用于各种不同类型的热电离同位素质谱计 (以下简称质谱计)的校准。
2 引用文献
JJF1001-1998 通用计量术语及定义
JJF1059-1999 测量不确定度评定与表示
GB/T 15481-2000 检验和校准实验室能力的通用要求
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 术语和计量单位
3.1 同位素丰度
某元素所具有的各种同位素在该元素中所占有的原子份额。同位素丰度表示方法
有:(1)原子分数:某种稳定性同位素所具有的摩尔原子数与该元素总的摩尔原子数之
比;(2)原子百分:以百分数表示的原子分数。
3.2 同位素丰度比
某元素的一种同位素丰度与该元素的另一种同位素丰度的比值。
3.3 质量范围
质量范围表示质谱计所能测量样品的质量由最小到最大的区间,单位为原子质量单
位u。
3.4 分辨率
分辨率表征质谱计鉴别两个相邻质量离子束的能力,定义为在质谱计的质量范围内
某一特定质量M 位置与M+ΔM 位置的两个离子束分开的程度,并以M/ΔM 表达质谱
计的分辨率。无量纲。
3.5 峰形系数
峰形系数表征离子束成像特征,它与质谱计的入口和出口狭缝,离子光学系统场形
和分析器的结构密切相关。无量纲。
3.6 系统稳定性
系统稳定性表征质谱计供电系统的稳定程度,它是用离子束的稳定度来量度。主要
依赖于离子源的加速电压、磁场强度和样品带、电离带供电电流的稳定性,与质谱计的
分辨率密切相关,无量纲。
3......
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