| 标准编号 | JJF 1179-2007 (JJF1179-2007) | | 中文名称 | 集成电路高温动态老化系统校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification of High Temperature Dynamic IC Burn-in System | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A56 | | 国际标准分类 | 17.220 | | 字数估计 | 15,114 | | 发布日期 | 6/14/2007 | | 实施日期 | 2007-09-14 | | 引用标准 | GB/T 5170.1-1995; GB/T 5170.2-1996 | | 标准依据 | AQSIQ Announcement No. 95 of 2007 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本规范适用于集成电路高温动态老化系统的校准。 | JJF 1179-2007
Calibration Specification of High Temperature Dynamic IC Burn-in System
中华人民共和国国家计量技术规范
集成电路高温动态老化系统校准规范
2007-06-14发布
2007-09-14实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
集成电路高温动态老化系统
校 准 规 范
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本规范经国家质量监督检验检疫总局2007年6月14日批准,并自
2007年9月14日起实施。
归口单位:全国无线电计量技术委员会
起草单位:信息产业部电子工业标准化研究所
本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
王 酣 (信息产业部电子工业标准化研究所)
吴京燕 (信息产业部电子工业标准化研究所)
陈大为 (信息产业部电子工业标准化研究所)
参加起草人:
郭守君 (桂林电子科技大学)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 温度性能 (1)
4.2 数字驱动信号特性参数 (2)
4.3 模拟驱动信号特性参数 (2)
4.4 老化板器件电源参数 (2)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 校准用计量标准、仪表设备 (2)
6 校准项目及校准方法 (2)
6.1 设备工作正常性检查 (2)
6.2 高温试验箱校准 (3)
6.3 数字驱动信号单元特性参数校准 (4)
6.4 模拟驱动信号单元特性参数校准 (5)
6.5 老化区器件电源单元电压设置校准 (6)
7 校准结果的表述 (7)
8 复校时间间隔 (7)
附录A 集成电路高温动态老化系统校准证书格式 (8)
集成电路高温动态老化系统校准规范
1 范围
本规范适用于集成电路高温动态老化系统的校准。
2 引用文献
GB/T 5170.1-1995电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则
GB/T 5170.2-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备
注:使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
集成电路高温动态老化系统用于对集成电路进行高温动态老化试验,主要由控制
机、高温试验箱、器件电源单元、信号驱动单元等部分组成,系统结构示意图见图1所
示。
图1 集成电路高温动态老化系统结构示意图
老化系统中的高温试验箱用于提供集成电路高温动态老化的高温环境。电源单元即
老化电源,采用二级电源方式,其中一级老化电源用于提供足够功率的正负一次电压,
二级老化电源以一级电源作为输入,参照集成电路器件老化规范要求为老化器件提供电
源。老化系统通常分为3~4个工作区,由4个独立的程控电源为整个系统提供器件电
源和信号电源。信号驱动单元是集成电路动态老化的核心子系统,其主要功能是通过主
控计算机的编程......
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