| 标准编号 | JJF 1682-2017 (JJF1682-2017) | | 中文名称 | 光栅式测微仪校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification for Grating Micrometers | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A52 | | 字数估计 | 24,296 | | 发布日期 | 2017-11-20 | | 实施日期 | 2018-05-20 | | 旧标准 (被替代) | JJG 989-2004 | | 标准依据 | 国家质检总局公告2017年第103号 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | JJF 1682-2017
(Grating Micrometer Calibration Specification)
中华人民共和国国家计量技术规范
光栅式测微仪校准规范
2017-11-20发布
2018-05-20实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
光栅式测微仪校准规范
代替JJG989-2004
归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:中国科学院光电技术研究所
中国测试技术研究院
参加起草单位:安徽省计量科学研究院
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
曹学东 (中国科学院光电技术研究所)
匡 龙 (中国科学院光电技术研究所)
冉 庆 (中国测试技术研究院)
参加起草人:
范天泉 (中国科学院光电技术研究所)
马 琳 (安徽省计量科学研究院)
胡 琦 (中国科学院光电技术研究所)
目 录
引言 (Ⅱ)
1 范围 (1)
2 引用文件 (1)
3 术语 (1)
3.1 示值误差范围 (1)
4 概述 (1)
5 计量特性 (1)
5.1 测力 (1)
5.2 测杆受径向力引起的示值变化 (1)
5.3 重复性 (1)
5.4 示值误差范围 (3)
5.5 漂移 (3)
6 校准条件 (3)
6.1 环境条件 (3)
6.2 校准项目和校准用标准器 (4)
7 校准方法 (5)
7.1 测力 (5)
7.2 测杆受径向力引起的示值变化 (5)
7.3 重复性 (5)
7.4 示值误差范围 (5)
7.5 漂移 (8)
8 校准结果表达 (8)
9 复校时间间隔 (8)
附录A 示值误差范围校准不确定度评定 (测长装置法) (9)
附录B 示值误差范围校准不确定度评定 (量块-测微仪检定器组合法) (13)
附录C 示值误差范围校准不确定度评定 (量块测量法) (16)
附录D 校准证书内容及内页格式 (19)
引 言
本规范的编写以JJF1071-2010 《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011
《通用计量术语及定义》和JJF1059.1-2012 《测量不确定度评定与表示》为基础和
依据。
本规范替代JJG989-2004 《光栅式测微仪》。
与JJG989-2004相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:
---本规范取消了 “外观”“各部分相互作用”及 “抗干扰性”三项通用技术要求;
“0.1μm级”及 “0.2μm级”两种准确度级别;
---本规范将示值误差的校准改为示值误差范围的校准;
---本规范将示值误差的测量方法由固定零点改为浮动零点形式;
---本规范在示值误差范围校准方法中增加了 “量块测量法”。
本规范的历次版本发布情况:
---JJG989-2004。
光栅式测微仪校准规范
1 范围
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm
级行程为0~50mm、1μm级~10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
2 引用文件
本规范引用下列文件:
JB/T 10030-2012 光栅线位移测量装置
JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统 第2部分:光栅线位移传感器
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文
件,其最新版本 (包括所有的修改单)适用本规范。
3 术语
指示值误差中最大者与最小者之差。
4 概述
光栅式测微仪 (以下简称测微仪)也称光栅测微仪、光栅长度计或光电测长仪,是
以光栅副作为测量元件,将线位移量转换为光电信号,经电路处理并以数字显示位移量
的一种长度精密测量仪器。测微仪按其结构分为整体式和分体式两类。整体式测微仪的
传感器与显示单元在一整体上。分体式测微仪主要由传感器 (含信号电缆)和数显表两
部分组成。整体式测微仪结构示意图见图1。分体式测微仪结构示意图见图2。
5 计量特性
5.1 ......
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