SJH 1267-1977 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 1267-1977 | 199 | SJ 1267-1977 | [PDF]天数 <=2 | 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 1267-1977 (SJ1267-1977) |
| 中文名称 | 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
| 英文名称 | Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L40 |
| 字数估计 | 5,551 |
| 实施日期 | 1/1/1978 |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
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