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SJH 20233-1993 相关标准英文版PDF

标准号码价格美元第2步(购买)交付天数标准名称
SJ 20233-1993 RFQ 询价 [PDF]天数 <=6 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
   
基本信息
标准编号 SJ 20233-1993 (SJ20233-1993)
中文名称 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
英文名称 Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem
行业 电子行业标准
中标分类 A56;L86
字数估计 29,258

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英文网页: SJH 20233-1993

相关标准: JJF 1234|JJF 1234|JJF 1396|GB/T 20247|