SJH 20789-2000 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 20789-2000 | 179 | SJ 20789-2000 | [PDF]天数 <=2 | MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20789-2000 (SJ20789-2000) |
| 中文名称 | MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 |
| 英文名称 | Rapid screening test methods for Thermal sensitive parameter of MOS field effect transistor |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L44 |
| 字数估计 | 5,526 |
| 发布日期 | 2000-10-20 |
| 实施日期 | 2000-10-20 |
| 引用标准 | GB/T 4596-94 |
| 范围 | 本规范规定了MOS场效向晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效用晶体管(以下简称电阻器)热敏参数快速筛选。 |
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