SJH 21347-2018 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 21347-2018 | 299 | SJ 21347-2018 | [PDF]天数 <=3 | 低温器件与组件极低温度筛选试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 21347-2018 (SJ21347-2018) |
| 中文名称 | 低温器件与组件极低温度筛选试验方法 |
| 英文名称 | (Low temperature device and component extremely low temperature screening test method) |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L04 |
| 字数估计 | 12,114 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
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