SJH 21625-2021 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 21625-2021 | 199 | SJ 21625-2021 | [PDF]天数 <=3 | Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 21625-2021 (SJ21625-2021) |
| 中文名称 | Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法 |
| 英文名称 | (Secondary ion mass spectrometry test method for impurity distribution between III-V group semiconductor materials and heterojunction interface) |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H83 |
| 国际标准分类 | 29.045 |
| 字数估计 | 9,931 |
| 发布日期 | 2021-12-27 |
| 实施日期 | 2022-03-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
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