SJH 2355.2-1983 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 2355.2-1983 | 199 | SJ 2355.2-1983 | [PDF]天数 <=2 | 半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 2355.2-1983 (SJ2355.2-1983) |
| 中文名称 | 半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法 |
| 英文名称 | Method of measurement for forward voltage drop of light-emitting devices |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L53 |
| 国际标准分类 | 31.26 |
| 字数估计 | 1,185 |
| 发布日期 | 8/15/1983 |
| 实施日期 | 7/1/1984 |
| 标准依据 | 工科[2009]第62号 |
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