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SJH 2355.7-1983 相关标准英文版PDF

标准号码价格美元第2步(购买)交付天数标准名称
SJ 2355.7-1983 199 SJ 2355.7-1983 [PDF]天数 <=2 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
   
基本信息
标准编号 SJ 2355.7-1983 (SJ2355.7-1983)
中文名称 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
英文名称 Method of measurement for peak emission wavelength and spectral radiation bandwidth of light-emitting devices
行业 电子行业标准
中标分类 L53
国际标准分类 31.26
字数估计 2,216
发布日期 8/15/1983
实施日期 7/1/1984
标准依据 工科[2009]第62号

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英文网页English: SJH 2355.7-1983

相关标准: SAMR 75|SJ/T 2658.15|SJ/T 2658.16|SJ/T 2658.14|