SJH 3245-1989 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 3245-1989 | 199 | SJ 3245-1989 | [PDF]天数 <=2 | 磷化铟单晶位错的测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 3245-1989 (SJ3245-1989) |
| 中文名称 | 磷化铟单晶位错的测量方法 |
| 英文名称 | Methods for measuring dislocation of Indium phosphide single-crystal |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H83;L90 |
| 字数估计 | 5,543 |
| 发布日期 | 3/20/1989 |
| 实施日期 | 3/25/1989 |
| 标准依据 | 工科(2010) 第77号 |
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