SJ/T 11207-1999 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 11207-1999 | 419 | SJ/T 11207-1999 | [PDF]天数 <=3 | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 |
| 基本信息 | |
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| 标准编号 | SJ/T 11207-1999 (SJ/T11207-1999) |
| 中文名称 | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 |
| 英文名称 | Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L19 |
| 字数估计 | 12,138 |
| 发布日期 | 8/26/1999 |
| 实施日期 | 12/1/1999 |
| 引用标准 | GB 9633-1988; GB 9637-1988 |
| 范围 | 本标准规定了频率为10GHz下的钇铁石榴石(Y1G)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振绒宽△H、立方磁各向异性常数K(1)、单轴磁各向异性常数K(u)、旋磁比γ和饱和磁化强度M(a)的测量方法。本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。 |
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