SJ/T 11210-1999 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 11210-1999 | 529 | SJ/T 11210-1999 | [PDF]天数 <=3 | 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11210-1999 (SJ/T11210-1999) |
| 中文名称 | 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 |
| 英文名称 | Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance Rland the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L71 |
| 字数估计 | 15,158 |
| 发布日期 | 8/26/1999 |
| 实施日期 | 12/1/1999 |
| 采用标准 | IEC 444-4-1998, IDT |
| 范围 | 本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f(L)和负载谐振电阻R(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△f(L), 频率牵引范围△f(L1L2)和牵引灵敏度S。本方法采用的是测量串联谐振频率f(L)和当与晶体元件串联一个负载电容C(L)时产生的f(L)的变化(即△f(L))。测量准确度主要由频率测量的准确度和负载电容校准的准确度决定。 |
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