SJ/T 11212-1999 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 11212-1999 | 559 | SJ/T 11212-1999 | [PDF]天数 <=3 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11212-1999 (SJ/T11212-1999) |
| 中文名称 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 |
| 英文名称 | Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L21 |
| 字数估计 | 16,111 |
| 发布日期 | 8/26/1999 |
| 实施日期 | 12/1/1999 |
| 引用标准 | SJ/Z 9154; SJ/Z 9154.1-1987 |
| 采用标准 | IEC 444-6-1995, IDT |
| 范围 | 本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DlD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A, 以SJ/Z 9154.1-87的π型网络为基础, 适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B, 是振荡器法, 适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。 |
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