SJ/T 11632-2016 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ/T 11632-2016 | 209 | SJ/T 11632-2016 | [PDF]天数 <=3 | 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11632-2016 (SJ/T11632-2016) |
| 中文名称 | 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 |
| 英文名称 | (Silicon solar cell with the test method of micro - cracks) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 字数估计 | 9,958 |
| 发布日期 | 2016-04-05 |
| 实施日期 | 2016-09-01 |
| 标准依据 | The Ministry of Industry and Notice No. 2016 in 2016; industry standard record announcement 2016 No. 7 (total 199) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法，主要内容包括规范性引用文件、术语和定义、方法原理、干扰因素、仪器设备、试样要求、测试环境、测试程序、精密度和试验报告等。 |
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