SN/T 2003.3-2006 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SN/T 2003.3-2006 | 399 | SN/T 2003.3-2006 | [PDF]天数 <=3 | 电子电气产品中铅、汞、铬、镉、和溴的测定 第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SN/T 2003.3-2006 (SN/T2003.3-2006) |
| 中文名称 | 电子电气产品中铅、汞、铬、镉、和溴的测定 第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法 |
| 英文名称 | Determination of Lead, Mercury, Cadmium and Bromine in electrical and electronic equipment. Part 3: Qualitative screening by X-ray fluorescence spectrometric method |
| 行业 | 商检行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L04 |
| 国际标准分类 | 31.020 |
| 字数估计 | 10,111 |
| 发布日期 | 2006-04-25 |
| 实施日期 | 2006-11-15 |
| 引用标准 | GB/T 8170; GB/T 15000.5; GB/T 16597 |
| 标准依据 | 行标公告2006年第7号(总第79号);国认科[2010]50号 |
| 发布机构 | 海关总署 |
| 范围 | 本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱法定量筛选电子电器产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。本部分适用于电子电器产品中铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定, 它覆盖了电子电器产品的所有材料型如聚合物、金属制品和电子制品。本部分适用于待测元素的浓度范围如表1所示。 |
SN/T 2003.3-2006
Determination of Lead, Mercury, Cadmium and Bromine in electrical and electronic equipment.Part 3: Qualitative screening by X-ray fluorescence spectrometric method
中华人民共和国出入境检验检疫行业标准
SN／T２００３．３-２００６
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定
第３部分：X射线荧光光谱定量筛选法
２００６-０４-２５发布
２００６-１１-１５实施
中 华 人 民 共 和 国
国家质量监督检验检疫总局 发 布
目次
前言 Ⅰ
１ 范围 １
２ 规范性引用文件 １
３ 方法提要 １
４ 试剂和材料 ２
５ 仪器 ２
６ 试料的制备 ２
７ 测试过程 ３
８ 结果报告 ３
９ 精密度 ３
附录Ａ（规范性附录） 符合性评价 ５
附录Ｂ（资料性附录） 工作曲线的校正 ６
表１ 不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围 １
表２ 不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求 ２
表３ 电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的Ｘ射线荧光光谱仪测量条件 ３
表４ 精密度 ４
SN／T２００３．３-２００６
前言
本部分为ＳＮ/T ２００３的第３部分。
本部分的附录Ａ为规范性附录，附录Ｂ为资料性附录。
本部分起草单位：中华人民共和国广东出入境检验检疫局、中华人民共和国天津出入境检验检疫
局、中华人民共和国深圳出入境检验检疫局、中华人民共和国上海出入境检验检疫局。
本部分主要起草人：宋武元、黄文娴、魏红兵、钟志光、刘志红、肖前、卫碧文、郑建国、刘丽。
本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。
本部分系首次发布的出入境检验检疫行业标准。
SN／T２００３．３-２００６
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定
第３部分：X射线荧光光谱定量筛选法
［安全提示］：X射线荧光光谱使用了对人体有危险的放射性辐射，因此使用该仪器时必须遵守仪
器生产商申明的和当地规定的安全指令，而且使用该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全
检查。
１ 范围
本部分规定了用波长色散Ｘ射线荧光光谱法定量筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定
方法。
本部分适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定，它覆盖了电子电气产品的所有材
料类型如聚合物、金属制品和电子制品。
本部分适用于待测元素的浓度范围如表１所示。
表１ 不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围 单位为毫克每千克
元素 聚合物材料 金属制品 电子元件
Ｃｄ P≤（７０-３σ）＜X＜（１３０＋３σ）≤F P≤（７０-３σ）＜X＜（１３０＋３σ）≤F LLD＜X＜（２５０＋３σ）≤F
Ｐｂ P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（５００-３σ）＜X＜（１５００＋３σ）≤F
Ｈｇ P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（５００-３σ）＜X＜（１５００＋３σ）≤F
Ｂｒ P≤（３００-３σ）＜X P≤（２５０-３σ）＜X
Ｃｒ P≤（７００-３σ）＜X P≤（７００-３σ）＜X P≤（５００-３σ）＜X
注１：X表示待测元素的测定值，P表示合格，F表示不合格。
注２：LLD表示该元素的检出限，３σ表示精密度。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T ８１７０ 数值修约规则
GB/T １５０００．５ 标准样品工作导则（５） 化学成分标准样品技术通则
GB/T １６５９７ 冶金产品分析方法 Ｘ射线荧光光谱法通则
３ 方法提要
Ｘ射线荧光光谱仪由Ｘ光管、分光晶体、探测器、放大器、脉冲高度分析器、定时器、定标器、计数率
记录仪和微处理机等部分组成。由Ｘ光管发射的原级Ｘ射线入射到样品上，样品元素受激发射出荧光
Ｘ射线，并与原级Ｘ射线的散射线一起，通过准直器（索勒狭缝），以平行方式投射到晶体表面，按布拉
格......