| 标准编号 | SN/T 4020-2013 (SN/T4020-2013) | | 中文名称 | 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法 | | 英文名称 | Determination of impurity elements content in pure iron. X-ray fluorescence spectrometry | | 行业 | 商检行业标准 (推荐) | | 字数估计 | 7,75 | | 引用标准 | GB/T 1031; GB/T 16597 | | 标准依据 | 国质检认(2013)569号;行业标准备案公告2014年第3号(总第171号) | | 发布机构 | 海关总署 | | 范围 | 本标准规定了纯铁中杂质元素的波长色散X射线荧光光谱测定方法。本标准适用于纯铁杂质元素硅、锰、磷、硫、铬、铜、镍和铝含量的测定。 | SN/T 4020-2013
Determination of impurity elements content in pure iron.X-ray fluorescence spectrometry
中华人民共和国出入境检验检疫行业标准
纯铁杂质含量测定X射线荧光光谱法
2013-11-06发布
2014-06-01实施
中 华 人 民 共 和 国
国家质量监督检验检疫总局 发 布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。
本标准起草单位:中华人民共和国山西出入境检验检疫局、太钢不锈钢股份有限公司。
本标准主要起草人:赵发宝、戴学谦、潘亚利、任维萍、刘 伟、杨晓兵、杨燕强。
纯铁杂质含量测定X射线荧光光谱法
1 范围
本标准规定了纯铁中杂质元素的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
本标准适用于纯铁中杂质元素硅、锰、磷、硫、铬、铜、镍和铝含量的测定,各元素测定范围见表1。
表1 纯铁中杂质元素的测定范围 %(质量分数)
元素 测定范围
Si 0.017~0.506
Mn 0.034~0.358
P 0.0019~0.040
S 0.0022~0.031
Cr 0.016~0.170
Cu 0.020~0.254
Ni 0.020~0.203
Al 0.050~0.432
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1031 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值
GB/T 16597 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
3 方法提要
将试样的待测面加工成光洁平面,在选定的仪器测量条件下,测量样品中待测元素特征谱线的X
射线荧光强度,根据X射线荧光强度与待测元素含量之间的定量关系,选择合适的回归方法及数学校
正模式,计算出待测元素的含量。
4 试剂和材料
4.1 检测器气体(......
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