YB/T 6166-2024 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| YB/T 6166-2024 | 259 | YB/T 6166-2024 | [PDF]天数 <=3 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YB/T 6166-2024 (YB/T6166-2024) |
| 中文名称 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 |
| 英文名称 | (Determination of Sheet Resistance of Graphene Films by Four-Probe Method) |
| 行业 | 冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | Q53 |
| 国际标准分类 | 77.040.20 |
| 字数估计 | 12,188 |
| 发布日期 | 2024-03-29 |
| 实施日期 | 2024-10-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了石墨烯薄膜的方块电阻测定方法，包括方法原理、仪器设备、测试条件、测试步骤、结果计算与数据采集和测试报告等。本文件适用于目视平整、附着在衬底表面的石墨烯薄膜方块电阻的测定，石墨烯薄膜的长和宽均不小于50mm。方块电阻的测量范围为1×10-3Ω～1×103Ω。本文件也可适用于更高或更低方块电阻的测量，但其测量精确度尚未评估。 |
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