YD/T 2342-2011 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| YD/T 2342-2011 | 939 | YD/T 2342-2011 | [PDF]天数 <=6 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YD/T 2342-2011 (YD/T2342-2011) |
| 中文名称 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 |
| 英文名称 | Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications |
| 行业 | 邮电行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | M33 |
| 国际标准分类 | 33.180.20 |
| 字数估计 | 36,312 |
| 发布日期 | 2011-12-20 |
| 实施日期 | 2011-12-20 |
| 引用标准 | GB/T 19001-2008; GB/T 21194-2007 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2011年第43号 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求, 包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件, 包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块, 简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。 |
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