YS/T 1600-2023 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| YS/T 1600-2023 | 239 | YS/T 1600-2023 | [PDF]天数 <=3 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YS/T 1600-2023 (YS/T1600-2023) |
| 中文名称 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
| 英文名称 | (Determination of Trace Impurity Element Content in Silicon Carbide Single Crystals by Glow Discharge Mass Spectrometry) |
| 行业 | 有色冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H17 |
| 国际标准分类 | 77.040.30 |
| 字数估计 | 11,181 |
| 发布日期 | 2023-04-21 |
| 实施日期 | 2023-11-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了碳化硅单晶中杂质元素含量的辉光放电质谱测定方法。本文件适用于碳化硅单晶中杂质元素含量的测定。 |
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