GB 6801-1986 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB 6801-1986	英文版	519	GB 6801-1986	[PDF]天数 <=4	半导体器件基准测试方法	GB 6801-1986	作废

基本信息
标准编号	GB 6801-1986 (GB6801-1986)
中文名称	半导体器件基准测试方法
英文名称	Reference methods of measurement for semiconductor devices
行业	国家标准
中标分类	L40
字数估计	13,142
发布日期	8/28/1986
实施日期	7/1/1987
采用标准	IEC 1473-3-1970, MOD

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