GB/T 11685-2003 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB/T 11685-2003	英文版	779	GB/T 11685-2003	[PDF]天数 <=5	半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法	GB/T 11685-2003	有效
GB/T 11685-1989	英文版	639	GB/T 11685-1989	[PDF]天数 <=5	半导体X射线能谱仪的测试方法	GB/T 11685-1989	作废

基本信息
标准编号	GB/T 11685-2003 (GB/T11685-2003)
中文名称	半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称	Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	F80
国际标准分类	27.120.01
字数估计	30,373
发布日期	2003-07-07
实施日期	2004-01-01
旧标准 (被替代)	GB/T 8992-1988; GB/T 11685-1989
发布机构	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

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