搜索结果: GB/T 12273.501-2012, GB/T12273.501-2012, GBT 12273.501-2012, GBT12273.501-2012
| 标准编号 | GB/T 12273.501-2012 (GB/T12273.501-2012) | | 中文名称 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | | 英文名称 | Quartz crystal units -- A specification in the quality assessment system for electronic components -- Part 5.1: Blank detail specification -- Qualification approval | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L21 | | 国际标准分类 | 31.140 | | 字数估计 | 10,114 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 15020-1994 | | 引用标准 | GB/T 2828.1; GB/T 12273-1996; GB/T 16517-1996; IEC 60122-3-2010; QC 001004-2003; QC 001005-2003 | | 采用标准 | IEC 61178-3-1-1993, MOD | | 标准依据 | 国家标准公告2012年第28号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 12273.501-2012
ICS 31.140
L21
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 15020-1994
石英晶体元件
电子元器件质量评定体系规范
第5.1部分:空白详细规范
鉴定批准
(IEC 61178-3-1:1993,Quartzcrystalunits
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
GB/T 12273《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范》分为如下几个部分:
---第1部分:总规范;
---第2部分:使用指南;
---第3部分:标准外形和引出端连接;
---第4部分:分规范 能力批准;
---第4.1部分:空白详细规范 能力批准;
---第5部分:分规范 鉴定批准;
---第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准。
本部分为GB/T 12273的第5.1部分。
本部分代替GB/T 15020-1994《电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元
件 评定水平E》,与GB/T 15020-1994相比,除编辑性修改外主要变化如下:
---由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容;
---删去了应该直接写在分规范中的规定内容;
---标准编号按标准不同部分进行了调整。
本部分使用重新起草法修改采用IEC 61178-3-1:1993《石英晶体元件 IEC 电子元器件质量评定
体系 第3部分:分规范 鉴定批准 第一篇:空白详细规范》。
本部分与IEC 61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC 61178-1被IEC 60122-1:2002代
替,目前IEC 61178的其他部分还继续有效。根据IEC 60122的预计结构,本部分应为IEC 60122的
第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC 60122的预计结构。这样的结构清晰并方
便使用,并且与IEC 有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。
本部分作了下列编辑性修改:
---外形和尺寸图由第三视角改为第一视角;
---规范性引用文件中的IEC 文件为目前的现行版本。
---用GB/T 2828.1-2003代替IEC 410:1973 计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中
无技术性差异。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 15020-1994。
序 言
空白详细规范
空白详细规范是分规范的补充文件,它规定了详细规范的格式和最小内容要求。
在制定详细规范时,应将GB/T 12273-1996第2章要求考虑进去。
对于生产批量小的晶体元件,可以不采用本规范,推荐采用能力批准。
详细规范的识别
对于本页方括号的数字,应在相应位置填上下列相应项目内容:
[1] 按其权限发布详细规范的国家标准机构名称。适用时,可从该机构得到详细规范。
[2] IEC Q编号和由IEC 分配给的详细规范编号。
[3] 总规范和相关分规范编号及其版本号:若有差异,也可加上国家标记。
[4] 与IEC Q编号不同的详细规范的国家编号、出版日期,以及国家体制要求的任何进一步内容
和任何修订的编号。
石英晶体元件的识别
[5] 石英晶体元件或石英晶体元件范围的简述(如标称频率、泛音次数、切型、振动模式)。
[6] 按IEC 60122-3及其修改件的典型结构的内容(适用时)(如电阻焊、冷压焊)。
对于[5]和[6],详细规范给出的内容应按IEC QC001005和IEC QC001004填入足够的内容。
[7] 标有主要互换性尺寸的外形图,它应符合IEC 60122-3及其修订件和(或)符合相应的国家或
国际标准文件中关于外形的要求。此外,该图也可在详细规范的附录中给出。
可从 获得规范 [1] 版本号 [2]
发布日期
第 页,共 页
按GB/T 12273-1996 [3]
鉴定批准评定质量的元器件
[4]
外形和尺寸 [7]
(第一视角)
单位:mm
石英晶体元件 [5]
晶体盒 [6]
石英晶体元件
电子元器件质量评定体系规范
第5.1部分:空白详细规范
鉴定批准
1 额定值
优先额定值见GB/T 12273-1996的2.3。
---工作温度范围;
---电路条件;
---最大激励电平;
---激励电平测量;
---气候类别;
---机械试验严酷度。
按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IEC QC001005得到。
2 特性值
特性值见GB/T 12273-1996的2.2。
---标称频率/范围;
---基准温度;
---频差;
---最大谐振电阻。
另外,也可以规定下述的其他特性:
---最大并电容;
---动态参数或频率牵引范围;
---无用响应;
---老化;
---激励电平相关性。
注:若有必要,上述特性可以表格形式给出。
3 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新......
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